檢測開關儀常見故障（zhàng）與（yǔ）特點

  1、使用初（chū）期的故障：以（yǐ）光電開關（guān）、接近開關（guān）等為主體的檢測（cè）開關，半導體一般會在使用初期發生故（gù）障。其原因（yīn）是使用（yòng）在回路中的半導體，在製造中受到種種應力而導致（zhì）在（zài）使用開始後的短（duǎn）期內發生破損；另外，功率比半導體低的電阻、電容也是造成使用初期故（gù）障的原因。初期故（gù）障的發生時間，根據製造方法的不同而不（bú）同（tóng），不能一概（gài）而論，一般多發生在使用開始（shǐ）後的（de）一星期到10天內。　　

  2、偶發（fā）故（gù）障：包括由於半導體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊（hàn）料等的（de）不良現象，但發生率極（jí）低。接近開關經常（cháng）發生故障時，可以考慮為使（shǐ）用環境的問題，請向廠家谘詢。

  3、負荷短路與配線（xiàn）錯誤：由於配線錯（cuò）誤或帶電作業引（yǐn）起（qǐ）負荷短路時，導致大電（diàn）流流（liú）向檢測開關，輸出回路燒毀。作為在檢測開關外進行的保護對策（cè），可使用切（qiē）斷快速熔斷（duàn）器（qì）短（duǎn）路（lù）電流的方法，通（tōng）過熔斷器進（jìn）行保護，不僅可保護（hù）負荷（hé）短路（lù），還對地線有保護作用。但是，由於（yú）開關（guān）內的輸出晶體管的（de）殘餘容量小，達不到100[%]的效果。

  4、幹擾波導致的破損：由幹擾波帶來的破損是慢慢形（xíng）成的，因此在開始使用後的一個月或二三個月後發生破損是極其普通（tōng）的。因此，在該期間發生破損時，其原因（yīn）則可判斷為幹擾波。電感負載開閉時發生的檢測開關的瞬間錯誤動作（zuò）是由幹擾波造成（chéng）的。